掃描電鏡中STEM透射模式的應(yīng)用

　　透射電鏡的加速電壓較高(一般為120-200kV)，對(duì)于有機(jī)高分子、生物等軟材料樣品的穿透能力強(qiáng)，形成的透射像襯度低，而掃描電鏡的加速電壓較低(一般用10-30kV)，因此應(yīng)用其STEM模式成透射像，可大大提高像的襯度。

　　有機(jī)太陽(yáng)能電池用的高分子/富勒烯薄膜(有機(jī)固體實(shí)驗(yàn)室樣品)的透射電子像，在用透射電鏡觀察其分相結(jié)構(gòu)時(shí)，由于兩部分襯度都低，因此幾乎無(wú)法區(qū)分，而應(yīng)用掃描電鏡的STEM模式觀察時(shí)，可清楚地觀察到兩相的結(jié)構(gòu)。

　　應(yīng)用透射電鏡觀察生物樣品時(shí)，由于樣品的襯度很低，須經(jīng)過鈾、鉛等重金 屬染色才能獲得其結(jié)構(gòu)信息，然而染色不僅麻煩而且可能會(huì)改變樣品的結(jié)構(gòu)。

　　在應(yīng)用掃描電鏡的STEM模式觀察生物樣品時(shí)，樣品無(wú)需染色直接觀察即可獲得較 高襯度的圖像，圖4為應(yīng)用STEM模式觀察得到的未染色的生物品的電鏡圖，可以看到其納米尺度的片層結(jié)構(gòu)。

　　除了可顯著提高透射像的襯度外，應(yīng)用掃描電鏡STEM成像還有一個(gè)優(yōu)勢(shì)是可對(duì)樣品同時(shí)成掃描二次電子像和透射像，既可以得到同一位置的表面形貌信息又可以得到內(nèi)部結(jié)構(gòu)信息，避免了在掃描電鏡和透射電鏡之間轉(zhuǎn)換樣品、定位樣品的麻煩。

　　應(yīng)用掃描電鏡觀察有機(jī)螺旋納米線(光化學(xué)實(shí)驗(yàn)室樣品)得到的二次電子像和透射像(STEM明場(chǎng)像和暗場(chǎng)像)，從二次電子像可以清楚地觀察到納米線的螺旋結(jié)構(gòu)，從透射像可以看出納米線是實(shí)心結(jié)構(gòu)非空心管結(jié)構(gòu)。

　　總之，隨著科學(xué)研究的深入對(duì)于物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析的要求越來越高，掃描電鏡STEM透射模式由于其襯度高、損傷小等特點(diǎn)，非常適合于有機(jī)高分子、生物等軟材料的結(jié)構(gòu)分析，將在此類材料的分析表征中發(fā)揮不可替代的作用。